|
eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий (до 2021) >
Кафедра автоматизированных систем управления >
Научные монографии >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/8577
|
| Название: | Evolutionary test generation methods for digital devices |
| Авторы: | Skobtsov, Yuriy
Skobtsov, Vadim |
| Ключевые слова: | digital devices
genetic algorithm
test generation
ATPG
цифровые устройства
генетический алгоритм
генерация тестов |
| Дата публикации: | 2011 |
| Издатель: | Springer Verlag |
| Библиографическое описание: | In: Design of digital systems and devices (eds. M.Adamski et al.). – Berlin Heidelberg: Springer Verlag. - Lecture notes in electrical engineering, 2011, vol. 79, - p.331-361 |
| Серия/номер: | Lecture notes in electrical engineering;vol. 79 |
| Аннотация: | In this chapter, we will discuss how evolutionary methods can be used for test generation of digital circuits.There is presented test generation genetic algorithms for combinational circuits.The evolutionary methods of test generation for sequential circuits are described.Distributed test generation methods are presented.Hierarchical genetic algorithm of test generation for highly sequential circuitsis proposed. Genetic programming in test generation of microprocessor systems is used. |
| Описание: | В этой главе мы обсудим, как эволюционные методы могут быть использованы для генерации тестов цифровых схем. Представлены генетические алгоритмы генерации тестов для комбинационных схем. Генетическое программирование в генерации тестов микропроцессорных систем используется. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/8577 |
| Располагается в коллекциях: | Научные монографии
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
