Электронный архив
Донецкого национального технического университета (г.Донецк)
Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)
 

eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий (до 2021) >
Кафедра прикладной математики и информатики >
Персональні архіви кафедри прикладної математики та інформатики >
Докторанти кафедри >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.ru/handle/123456789/4370

Название: Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем
Авторы: Андрюхин, Александр Иванович
Andruckin, A.I.
Ключевые слова: switch
level
CMOS
diagnosis
test
random
Дата публикации: Янв-2011
Издатель: Electronic Modeling
Аннотация: À method for pseudorandom test generation on switch level is described. Experimental results of investigation on Iscas-89 circuits are presented to demonstrate the ef fectiveness of the proposed method.
URI: http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4370
ISSN: 0204–3572
Располагается в коллекциях:Докторанти кафедри
Статті співробітників кафедри ПМІ

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Andruckin_ISSN_0204–3572_ Electronic Modeling_ 2011_ V_ 33_1.pdf147.57 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.