eaDonNTU, Donetsk >
Научные труды ДонНТУ >
Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка >
Випуск 13 (185) >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/4124
|
Название: | Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур |
Другие названия: | Switching simulation and diagnosis of the basic model faults of CMOS structures |
Авторы: | Андрюхин, Александр Иванович |
Ключевые слова: | дефект МОП-схема переключательный анализ МОП-структура BGP fault MOS- scheme switching analysis MOS- structure |
Дата публикации: | 18-Июн-2011 |
Издатель: | Донецкий национальный технический университет |
Библиографическое описание: | А.И. Андрюхин. Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур // Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 13 (185), Донецк, ДонНТУ, 2011. – С. 54-65. |
Аннотация: | Review of fault models is presented in the first part of article. Examples of the switching
analysis of MOS structures are considered. The importance of BGP to simulate faults of MOS
structures at the present stage is presented. |
Описание: | Представлен обзор основных дефектов МОП-схем. Рассматриваются примеры переключательного анализа МОП-структур. Представлена важность BGP для моделирования неисправностей МОП-структур на современном этапе. |
URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4124 |
ISSN: | ISSN 1996-1588 |
Располагается в коллекциях: | Випуск 13 (185) Статті співробітників кафедри ПМІ
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|