Электронный архив
Донецкого национального технического университета (г.Донецк)
Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)
 

eaDonNTU, Donetsk >
Факультет интеллектуальных систем и программирования (ФИСП) >
Кафедра компьютерной инженерии >
Научные публикации кафедры компьютерной инженерии >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33464

Название: Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного тестирования цифровых схем
Авторы: Дяченко, Олег Николаевич
Зинченко, Юрий Евгеньевич
Дяченко, Валерий Олегович
Ключевые слова: генератор тестовых последовательностей
анализатор тестовых реакций
порождающий полином
циклические коды
Дата публикации: 2017
Издатель: Донецкий национальный технический университет
Библиографическое описание: Дяченко О.Н., Зинченко Ю.Е., Дяченко В.О. Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного тестирования цифровых схем // Информатика и кибернетика. Донецк: ДонНТУ, 2017. № 3(9). – С. 55–59
Серия/номер: Информатика и кибернетика;3(9)
Аннотация: Дяченко О.Н., Зинченко Ю.Е., Дяченко В.О. Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного тестирования цифровых схем. Выполнен анализ эффективности компактного тестирования комбинационных схем, учитывающего структуру генератора тестовых последовательностей, анализатора тестовых реакций, построенных на основе методов циклического кодирования, и характер распределения ошибок в тестовой реакции. Предложен метод расчета сигнатур, отличающийся от известного, в выборе степенного обозначения тестовых наборов вместо двоичного. Показано, что главное достоинство аналитического вычисления сигнатур являются не столько значения компактных оценок, а вывод о сигнатурной тестируемости комбинационных схем. Этот вывод распространяется на многовходовые анализаторы тестовых реакций; для структур с посимвольным перемежением; для порождающих полиномов, как в конфигурации Галуа, так и в конфигурации Фибоначчи. Предложены рекомендации по выбору порождающих полиномов регистров сдвига с линейными обратными связями для различных вариантов компактного тестирования
URI: http://ea.donntu.org/handle/123456789/33464
Располагается в коллекциях:Научные публикации кафедры компьютерной инженерии

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
2017-Dyachenko-INF-CYB-9.pdf230.13 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.