Электронный архив
Донецкого национального технического университета (г.Донецк)
Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)
 

Расширенный поиск
Главная страница
 
Просмотреть
Разделы
и коллекции
По дате
По автору
По заглавию
По тематике
 
Зарегистрированным:
Обновления на e-mail
Мой архив
ресурсов
Редактировать профиль
 
О DSpace

eaDonNTU, Donetsk >
Научные труды ДонНТУ >
Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка >
Випуск 93 >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.ru/handle/123456789/15796

Название: ОБЗОР МЕТОДОВ ТЕСТИРОВАНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ «ОБРЫВ ТРАНЗИСТОРА» В МОП-СХЕМАХ
Другие названия: Methods of the Diagnosis of Open Defects in MOS -circuits
Авторы: Андрюхин, Александр Иванович
Andruckin, A.I.
Ключевые слова: MOS -circuits
Open Defects
МОП-схема
обрыв транзистора
неисправность
diagnosis
Дата публикации: 2005
Издатель: ДонНТУ
Библиографическое описание: Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 93, Донецк, ДонНТУ, 2005
Описание: The rewiew of the articles on diagnosis of MOS Open Defects t is submitted
URI: http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15796
Располагается в коллекциях:Випуск 93

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
196-204.pdf6.04 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.