eaDonNTU, Donetsk >
Научные труды ДонНТУ >
Серія: Обчислювальна техніка та автоматизація >
Випуск 23 (201) >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/15687
|
Название: | Метод исследования и оценки методической погрешности ДПФ измерительных каналов с высокоразрядными АЦП |
Другие названия: | A method of Research and an Assessment of a Methodical Error of DPF of Measuring Channels with High-Digit ADC Метод дослідження та оцінки методичної похибки ДПФ вимірювальних каналів з високорозрядним АЦП |
Авторы: | Штепа, А.А. Shtepa, A.A. Штепа, О.А. |
Ключевые слова: | информационно-измерительная система дискретное преобразование Фурье методическая погрешность эффект Гиббса моделирование LabVIEW information and measuring system Discrete Fourier Transformation methodical error Gibbs's effect modeling інформаційно-вимірювальна система дискретне перетворення Фур'є методична похибка ефект Гіббса моделювання |
Дата публикации: | 2012 |
Издатель: | Донецький національний технічний університет |
Библиографическое описание: | Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: Обчислювальна техніка та автоматизація. Випуск 23 (201). - Донецьк, ДонНТУ, 2012. С - 203-209 |
Серия/номер: | Обчислювальна техніка та автоматизація;23(201) |
Аннотация: | Исследована методическая погрешность дискретного преобразования Фурье (ДПФ) обусловленная эффектом Гиббса для информационно-измерительных систем (ИИС) на основе АЦП средней и высокой разрядности. Разработан и реализован в среде LabVIEW метод ее оценки, выполнен сравнительный анализ ряда методов ее уменьшения для измерительных каналов ИИС. |
Описание: | The methodical error of the discrete Fourier transform (DFT) due to the effect of Gibbs for the information-measuring systems (IMS) based on the medium and high bit depth ADC is researched. The method of its assessment is developed and realized in the environment of LabVIEW, the comparative analysis of a number of methods of its reduction for the IMS measuring channels is made. |
URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15687 |
ISSN: | 2075-4272 |
Располагается в коллекциях: | Випуск 23 (201) Статьи кафедры ЭТ
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|