|
eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий (до 2021) >
Кафедра автоматизированных систем управления >
Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/1453
|
| Название: | Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits |
| Авторы: | Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Yurij
Skobtsov, Vadim
Ubar, Raimond |
| Ключевые слова: | digital circuit
genetic algorithm
sequential circuits
BIST
test generation
functional approach |
| Дата публикации: | 2004 |
| Издатель: | Proc. of 9th Biennial Baltic Electronics Conf., BEC 2004 |
| Библиографическое описание: | Y. A. Skobtsov, D. E. Ivanov, V. Y. Skobtsov, R. Ubar. Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits. In Proc. of 9th Biennial Baltic Electronics Conf., BEC 2004 (Tallinn, Oct. 2004), pp. 229-232. Tallinn Univ. of Techn., 2004. |
| Аннотация: | In the paper an evolutionary approach for functional testing of digital circuits is considered. A genetic algorithm for testing digital multiplier is proposed. The main target of the proposed method is to generate as short as possible functional test wih as high as possible fault coverage with the goal to use the generated patterns as the input data for embedded functional BIST. Experimental data of the program realization is also represented. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1453 |
| Располагается в коллекциях: | Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
