|
eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий (до 2021) >
Кафедра автоматизированных систем управления >
Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/1445
|
| Название: | Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits |
| Авторы: | Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Vadim
Skobtsov, Yurij |
| Ключевые слова: | evolutionary computations
genetic algorithm
sequential circuits
test generation
parallel algorithm
islands model |
| Дата публикации: | 2008 |
| Издатель: | Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany |
| Библиографическое описание: | Y.A. Skobtsov, D.E. Ivanov, V.Y. Skobtsov Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits // Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany.- pp.213-218. |
| Аннотация: | The genetic algorithms of test generation and fault simulation for digital circuits are considered. The main modes of genetic algorithm parallelization for test generation and simulation are represented - “worker-farmer”, “island model”. The program implementation and computer experiments of proposed methods are discussed. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1445 |
| Располагается в коллекциях: | Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
