|
eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий (до 2021) >
Кафедра автоматизированных систем управления >
Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/1430
|
| Название: | Алгоритм симуляции отжига построения тестов цифровых устройств |
| Авторы: | Иванов, Дмитрий Евгениевич |
| Ключевые слова: | цифровая последовательностная схема
генерация тестов
симуляция отжига
моделирование с неисправностями
цифрова послідовністна схема
генерація тестів
симуляція віджигу
моделювання з пошкодженнями
sequential circuit
test generation
simulating annealing algorithm
fault simulation |
| Дата публикации: | 2010 |
| Издатель: | Херсонский национальный технический университет |
| Библиографическое описание: | Иванов Д.Е. Алгоритм симуляции отжига построения тестов цифровых устройств/ Д.Е. Иванов, Р. Зуауи// Інформаційні технології в освіті та управлінні: Вестник Херсонского национального технического университета: XII наук.-практ. міжнар. конф., 27-29 трав., Нова Каховка.- Херсон, 2010.- №2(38).- С. 416-422. |
| Аннотация: | В статье предлагается новый двухуровневый алгоритм решения классической задачи генерации тестов для синхронных последовательностных схем. Он основан на оптимизационной стратегии симуляции отжига. Построение решения для некоторой выбранной неисправности ведётся путём улучшения свойств одного первоначального решения. Данные для построения оценки потенциального решения получаются на основе моделирования с неисправностями исследуемой схемы. Такой подход позволяет эффективно строить тесты для схем средней и большой размерности, что подтверждают результаты апробации на схемах из международного каталога ISCAS-89. |
| Описание: | В даній статі пропонується новий дворівневий алгоритм рішення класичної задачі генерації тестів
для синхронних послідовністних схем. Він заснований на новій оптимізуючій стратегії симуляції
віджигу. Побудова тесту для деякого обраного пошкодження відбувається шляхом покращення
властивостей одного попереднього рішення. Дані для оцінювання тестових властивостей цього рішення
отримуються на основі моделювання з пошкодженнями схеми, що досліджується. Такий підхід дозволяє
ефективно будувати тести для схем середньої та великої розмірності, що підтверджується результатами
апробації на схемах з міжнародного каталогу ISCAS-89.
In this paper a new two-level algorithm for solving the classical problem of test generation for the
sequential circuits is proposed. This algorithm is based on the new optimizing strategy named simulating
annealing. Test construction for some choused fault is performed by quality enhancement for one preliminary
constructed solution. The data for evaluating the quality of the potential solution is brought from the fault
simulation of the circuit under consideration. Such approach allows building the tests for the circuits of medium
and high size. Also we give the results of the computer experiments on the ISCAS-89 benchmark circuits that show the effectiveness of the proposed approach. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1430 |
| Другие идентификаторы: | УДК 681.518 |
| Располагается в коллекциях: | Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
