Электронный архив
Донецкого национального технического университета (г.Донецк)
Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)
 

eaDonNTU, Donetsk >

Просмотр коллекции по группе - По тематике test generation

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Є Ж З И І К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я
или введите несколько первых букв:   
Сортировка: Упорядочнить: Вывести на страницу: Авторы:
Отображение результатов 1 до 13 из 13
Дата публикацииНазваниеАвтор(ы)
2011THE DISTINGUISHING FUNCTIONS IN TEST GENERATION OF DIGITAL SEQUENTIAL CIRCUITS WITH MULTIPLE OBSERVATION TIME STRATEGYСкобцов, Юрий Александрович; Скобцов, Вадим Юрьевич; Skobtsov, Yuri Alexandrovich; Skobtsov, Vadim Yurevich
2006Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital CircuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Yurij; El-Khatib; Эль-Хатиб, А.И.; Иванов, Дмитрий; Скобцов, Юрий
2005Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BISTSkobtsov, Y.A.; Ivanov, D.E.; Skobtsov, V.Y.; Ubar, R.; Raik, Y.
2004Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Yurij; Skobtsov, Vadim; Ubar, Raimond
2008Evolutionary distributed test generation methods for digital circuitsIvanov, Dmitry; Skobtsov, Vadim; Skobtsov, Yurij
2011Evolutionary test generation methods for digital devicesSkobtsov, Yuriy; Skobtsov, Vadim
1997Time Optimization for Test GenerationAndryukhin, A.I.; Андрюхин, Александр Иванович
2010Алгоритм симуляции отжига оптимизации рассеивания тепла диагностических тестовИванов, Дмитрий Евгениевич
2010Алгоритм симуляции отжига построения тестов цифровых устройствИванов, Дмитрий Евгениевич
2009Взаимодействие компонент в распределённых генетических алгоритмах генерации тестовИванов, Д.Е.; Чебанов, П.А.; Ivanov, D.E.; Chebanov, P.A.; Іванов, Д.Є.; Чебанов, П.О.
1990Генератор имитаторовТерехов, А.Н.; Дацун, Н.Н.
2013Еволюційні методи генерації тестів для неконстантних несправностейНассер Іяд, К.М.; Нассер Ияд, К.М.; NASSER Iyad, K.M.
2002Приминение адаптивных генетических алгоритмов для генерации тестов цифровых схемСкобцов, Ю.А.; Иванов, Д.Е.; Скобцов, В.Ю.; Закусило, С.А.
Отображение результатов 1 до 13 из 13