Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне

	Электронный архив Донецкого национального технического университета (г.Донецк) Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.ru/handle/123456789/5830

Название:	Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Другие названия:	Test Generation for MOS-structures on switch level
Авторы:	Андрюхин, Александр Иванович
Ключевые слова:	генерация тестов МОП-структура дефекты МОП-схем
Дата публикации:	4-Июл-2008
Издатель:	Донецкий национальный технический университет
Библиографическое описание:	Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202.
Аннотация:	А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method.
URI:	http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830
ISSN:	1996-1588
Располагается в коллекциях:	Випуск 9 (132) Статті співробітників кафедри ПМІ

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
08aaimpu.pdf		136.73 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.