|
eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных информационных технологий и автоматики >
Кафедра радиотехники и защиты информации >
Патенты >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/32627
|
Название: | Пристрій для обробки даних результатів вимірювань |
Авторы: | Мотильов, Костянтин Ігорович Михайлов, Максим Володимирович Щербов, Ігор Леонідович Пасльон, Володимир Володимирович |
Ключевые слова: | обробка даних результати вимірювань обчислювальний блок патент |
Дата публикации: | 2008 |
Издатель: | ДП “Український інститут промислової власності” |
Аннотация: | 1. Пристрій для обробки даних результатів вимірювань, що містить обчислювальний блок, з'єднаний з блоком пам'яті, який виконаний з можливістю занесення в пам'ять результатів вимірювань і обчислень, який відрізняється тим, що в нього додатково введені блок формування тактових імпульсів, з'єднаний з обчислювальним блоком та виконаний з можливістю керування обчислювальним блоком і блоком пам'яті за допомогою подачі певних послідовностей імпульсів, і генератор тактових імпульсів, з'єднаний з блоком формування тактових імпульсів і виконаний з можливістю подачі тактових імпульсів на блок формування тактових імпульсів для функціонування останнього, а обчислювальний блок виконаний з можливістю реалізації узагальненого методу обробки даних результатів вимірювань, що реалізує просторову надмірність.
2. Пристрій за п. 1, який відрізняєтьсятим, що обчислювальний блок виконаний з можливістю обробки даних результатів вимірювань, отриманих одночасно щонайменше від двох вимірювальних станцій, і обробки даних результатів вимірювань з тою ж точністю, що й при обробці інформації від однієї вимірювальної станції.
3. Пристрій за п. 1 або2, який відрізняється тим, що обчислювальний блок виконаний з можливістю урахування нерівноточності вимірювальних засобів, дані результатів вимірювань яких надходять на вхід обчислювального блока.
4. Пристрій за п. 3, який відрізняєтьсятим, що обчислювальний блок виконаний з можливістю зменшення впливу на результат збійних значень
параметрів.
5. Пристрій за будь-яким з попередніх пунктів, який відрізняє тьсятим, що він виконаний у вигляді мікросхеми на одній підкладці. |
URI: | http://ea.donntu.org/handle/123456789/32627 |
Располагается в коллекциях: | Патенты
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|