|
|
eaDonNTU, Donetsk >
Научные труды ДонНТУ >
Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка >
Випуск 1 (17) >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/29687
|
| Название: | «Византийское поведение» неисправностей современных СБИС |
| Другие названия: | Byzantine behavior of faults in modern VLSI
"Візантійська" поведінка несправностей сучасних НВІС |
| Авторы: | Андрюхин, А.И.
Андрюхін, О.І.
Andriukhin, A.I. |
| Ключевые слова: | византийская проблема
СБИС
диагностирование неисправностей
неисправности СБИС
візантійська поведінка
КМОП НВІС
діагностування несправностей
несправності НВІС
BGP
CMOS VLSI
fault diagnosis
BF faults
SOP faults |
| Дата публикации: | 2013 |
| Издатель: | ДонНТУ |
| Библиографическое описание: | Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка : збірник статей. Вип.1 (17) / ДВНЗ "ДонНТУ" ; редкол.: О.Є. Башков (голов. ред.) та ін. - Донецьк : ДонНТУ, 2013. |
| Аннотация: | В данной работе рассматриваются одна из основных проблем проверки современных
СБИС. Представлен обзор важнейших дефектов и соответствующих моделей неисправностей. Выполнен анализ проблем при диагностировании и тестирования BF и SOP неисправностей современных СБИС. Определены границы и возможности различных подходов проверки СБИС. Представлены примеры расчетов. |
| Описание: | The paper considers one of the main problems of modern VLSI verification. The review of major defects and corresponding models of malfunctions is provided. The Byzantine Generals Problem (BGP) is not a myth, it can be caused by many faults, including SOP and BF faults. The analysis of problems was made when diagnosing
and testing BF and SOP faults of modern VLSI. It is known that BF”s are the major source of VLSI circuits failure. These defects cause different behaviors of faulty VLSI circuits, depending on the value of bridging resistance. VLSI designers should be able to detect these faults and find the ways of removing them. Designers, who consider BGP impossible, or who have never heard of it, will not recognize the problem, when it occurs in their projects. Byzantine faults can be prevented from causing a Byzantine Problem by designing such systems, when consensus is not needed.
However, it is extremely difficult or impossible to design highly reliable systems that do not need some forms of consensus. The only practical solution is Byzantine fault tolerance; this is also known as consistency or congruency. To achieve this fault tolerance, a system must have one or more mechanisms specifically designed for
dealing with these faults. Careful design of VLSI circuits is needed to allow testing to establish a coverage factor meeting system dependability requirements. Schmitt triggers can help, but are not guaranteed to be effe ctive.
High gain of modern VLSI means that very small noise of the input signal X becomes very large noise on the output. Thus, signal X tends to be oscillatory and can easily achieve amplitudes that swing from minimum voltage to maximum voltage. These amplitudes can easily exceed Schmitt trigger hysteresis. Thus, even VLSI with
Schmitt trigger must use testing to establish the coverage factor. Finally, in avoiding failures, planning is most
important and a designer should analyze the environment and identify the failures that can be tolerated to achieve the desirable reliability level. To optimize fault tolerance, it is important to estimate actual failure rate for each possible failure and types of failures (some are more probable than others, or some are transient, others permanent). Borders and possibilities of various approaches of VLSI verification are defined. Examples of calculations are presented. |
| URI: | http://ea.donntu.org/handle/123456789/29687 |
| Располагается в коллекциях: | Випуск 1 (17)
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
