eaDonNTU, Donetsk >
Факультет интеллектуальных систем и программирования (ФИСП) >
Кафедра компьютерной инженерии >
Научные публикации кафедры компьютерной инженерии >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/19451
|
Название: | Исследование генераторов тестов схем встроенного контроля |
Авторы: | Зинченко, Ю.Е. Тарасенко, А.Н. |
Ключевые слова: | Test Built-in-test Digital Device Signature Analysis |
Дата публикации: | 1984 |
Издатель: | Ереван, Цахкадзор |
Библиографическое описание: | Тарасенко А.Н., Зинченко Ю.Е.. Исследование генераторов тестов схем встроенного контроля // Контроль изделий микроэлектроники и применение микропроцессорных средств вычислительной техники: Тез. докл. Всесоюзн. наун. техн. семинара. - Цахкадзор, 27-30 ноября 1984. - Ереван, 1984. - С. 65 |
URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/19451 |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации кафедры компьютерной инженерии
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|