|
eaDonNTU, Donetsk >
Научные труды ДонНТУ >
Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка >
Випуск 1 >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/15860
|
| Название: | ДЕТЕРМИНИРОВАНАЯ ОЦЕНКА ДЛИНЫ ПСЕВДОСЛУЧАЙНОГО ТЕСТА ОЗУ |
| Другие названия: | A deterministic technique for the calculation of the number of pseudorandom test patterns of RAM. |
| Авторы: | Зинченко, Ю.Е.
Zinchenko, J. |
| Ключевые слова: | deterministic technique
model of Junctional faults
functional faults of RAM
тест ОЗУ
детерминированная оценка
длина |
| Дата публикации: | 1997 |
| Издатель: | ДонНТУ |
| Библиографическое описание: | Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997 |
| Описание: | In the first part of the article a mathematical model of Junctional faults including static and[pattern - sensitive faults is described. In the second part the testability conditions of the functional faults of RAM for an arbitrary test are obtained. On the basis of these conditions the formulas for calculations of the number of pseudorandom test patterns of RAM providing 100% average faults are obtained. The results of faults modeling of RAM are presented. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15860 |
| Располагается в коллекциях: | Випуск 1
Научные публикации кафедры компьютерной инженерии
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
