|
eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий (до 2021) >
Кафедра автоматизированных систем управления >
Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/1450
|
| Название: | Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits |
| Авторы: | Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Yurij
El-Khatib
Иванов, Дмитрий
Скобцов, Юрий
Эль-Хатиб, А.И. |
| Ключевые слова: | digital circuit
genetic algorithm
fault simulation
parallel simulation
multi-core processo
islands model
цифровая схема
генетический алгоритм
моделирование неисправностей
параллельное моделирование
многоядерные процессоры |
| Дата публикации: | 2006 |
| Издатель: | Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06). |
| Библиографическое описание: | Skobtsov, Y.A. Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits/ Y.A.Skobtsov, El-Khatib, D.E.Ivanov// Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06).- Sochi, 2006.- P.89-94. |
| Аннотация: | Fault simulation is on of the most highly compute-intensive task in the technical diagnostics. One of the ways to speed-up this process is a parallelization on the calculation cluster. In this paper a distributed algorithm for fault simulation of digital circuits is presented. It is based on the well-known «master-slave» approach in which one processor is nominating as a master and rules all calculation on the all slave’s processors. To reach the maximal utilization of the processors in the cluster it is used schema with static fault list partitioning. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1450 |
| Располагается в коллекциях: | Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
