|
eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий (до 2021) >
Кафедра автоматизированных систем управления >
Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/1449
|
| Название: | Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits |
| Авторы: | Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Yurij
El-Khatib
Эль-Хатиб, А.И.
Иванов, Дмитрий
Скобцов, Юрий |
| Ключевые слова: | genenic algorithms
distributed calculations
test generation
fault simulation
digital circuits
генетические алгоритмы
распределенные вычисления
генерация тестов
моделирование неисправностей
цифровые схемы |
| Дата публикации: | 2006 |
| Издатель: | Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.
Tallinn Technical University |
| Библиографическое описание: | Skobtsov, Y.A. Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits/ Y.A. Skobtsov, El-Khatib, D.E.Ivanov// Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.-Tallinn Technical University,2006.-P.281-284. |
| Аннотация: | The distributed genetic algorithms are considered for problem of test generation. The different forms of parallelization of genetic algorithms are investigated for test generation. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1449 |
| Располагается в коллекциях: | Научные статьи кафедры автоматизированных систем управления
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
